О карта сайта |

Semiconductor Equipment Components -JiFeng Ceramics

Керамические структурные компоненты/

Semiconductor Equipment Components

Semiconductor Equipment Components are manufactured from high-purity ceramics (Al₂O₃/AlN/SiC/Si₃N₄/ZrO₂) или специальные сплавы (Инвар/AlSiC) за счет прецизионной механической обработки и обработки поверхности. Они отвечают строгим требованиям производства полупроводников к чистоте., коррозионная стойкость, и термическая стабильность, и широко используются при обработке пластин, травление, осаждение, литография, и испытательное оборудование.

  • Подробная информация о продукте
  • Технические характеристики

Core Advantages Of Ceramic Semiconductor Equipment Components

Nanometer‑Level Precision

Flatness ≤0.005mm, surface roughness Ra≤0.1μm, ideal for wafer transfer & lithography alignment.

Extreme Environment Resistance

Operating temp 800–1600°C; plasma & acid/alkali resistant (pH 1–14); service life ×5+ vs metal.

Ultra-High Cleanliness

Metal ion leaching ≤1ppm; no particle shedding (NAS 1638 Сорт 1); EUV & high-purity process compatible.

Excellent Thermal Management

AlN thermal conductivity ≥170W/m·K; CTE matches silicon (4.5×10⁻⁶/℃), reduces thermal stress.

Типичные применения & Material Selection

1. Wafer Transport & Поддерживать

Wafer Chuck

Materials: глинозем (Al₂O₃, purity ≥99.5%) or Silicon Carbide (Карбид кремния, purity ≥99.9%).
Производительность: Electrostatic adsorption force ≥0.1MPa, flatness ≤0.003mm, compatible with thinning and bonding of 12-inch wafers.

Vacuum Chamber Flange

Материал: Нитрид алюминия (АлН, thermal conductivity ≥170W/m·K).
Производительность: Gas tightness ≤1×10⁻⁹ Pa·m³/s, suitable for etching and PVD equipment.

2. Gas Distribution & Reaction Control

Gas Distribution Plate

Материал: Цирконий, стабилизированный иттрием (ЯСЗ), resistant to plasma erosion.
Производительность: Micropore diameter tolerance ±0.005mm, uniformity error ±2%.

Heater Base

Материал: Карбид кремния (Карбид кремния), temperature resistance up to 1600°C.
Производительность: Resistance uniformity ≤±1%, designed for MOCVD epitaxial growth.

3. Lithography & Inspection Equipment

EUV Optical Lens Base

Материал: Low-expansion Invar Alloy, CTE ≤1×10⁻⁶/°C.
Производительность: Thermal stability ±0.01μm/°C, compatible with processes below 7nm.

Wafer Alignment Stage

Материал: Lightweight AlSiC ceramic composite.
Производительность: Repeat positioning accuracy ±10nm, matches lithography focusing systems.

Why Partner with JiFeng Ceramics?

Material Selection

глинозем / Нитрид алюминия / Карбид кремния / Special Alloys, compatible with diverse semiconductor process requirements.

Process Optimization

Precision grinding (tolerance ±0.001mm) and CVD coating for superior wear and plasma resistance.

Functional Integration

Embedded electrodes and sensors, matching intelligent temperature control and real-time monitoring systems.

Cost Advantage

Adopts domestic high-purity powder and machining technologies, with prices 30%–50% lower than imported brands.

ItemDetails
Керамические материалыСи₃N₄, Al₂O₃, ZrO₂, АлН, Карбид кремния
Machining Accuracy±0.01mm; Flatness 0.003mm; Parallelism 0.005mm
Ключевые свойстваWear-resistant, high temp resistant, высокая твердость, изоляция, anti-corrosion
ColorsБелый, beige, black
КастомизацияCustomizable per customer drawing

Предыдущий:

Следующий:

Оставить сообщение